平（píng）麵度（flatness;planeness)，是屬於形（xíng）位公差中的一種，指物（wù）體表麵具有的宏觀凹（āo）凸高度相對理想（xiǎng）平麵的偏差。在傳統的檢測方法中，平麵度的測量通常有：塞（sāi）規/塞尺（chǐ）測量法、液平（píng）麵法（fǎ）、激光平麵幹涉儀測量法（平晶幹（gàn）涉法）、水平儀/數字水平儀測量法、以（yǐ）及打表測量法。

塞尺測量法，隻需一套可隨身攜（xié）帶（dài）的（de）塞尺就可隨（suí）時隨地進行平麵度的粗測。目前很多工廠仍使用該方法進行（háng）檢（jiǎn）測。由於其精度不高，常規最薄塞尺為10um，檢（jiǎn）測效率較低，結果不夠全麵，隻能檢測零件邊緣。

液平麵法，基於連通器工作原理，適（shì）合測量連續或不連續的（de）大平麵的平麵度，但測量時間長，且（qiě）對溫度（dù）敏感，僅適用於測量精（jīng）度較（jiào）低的平（píng）麵。

激光平麵幹涉儀測量法，最典型的（de）用法是平晶（jīng）幹涉法。但主要於測量光潔的小平麵（miàn）的測量，如（rú）千分頭測量麵，量規的工作麵，光學透鏡。

水平儀測量法，廣泛用於（yú）工件表麵的直線度和平麵度測（cè）量。測量精（jīng）度高、穩定性好、體（tǐ）積小、攜帶方便。但是用該方法測量時需要反複（fù）挪動儀器位置，記錄（lù）各測點（diǎn）的數據，費（fèi）時、費力，調整時間長，數據處理程序繁瑣。

打表測（cè）量法，典型應用為平（píng）板測微儀及三坐標儀（yí），其中優以（yǐ）三坐標儀為應用（yòng）最廣泛。測量時指示器在待測樣品上（shàng）移動，按選定的布點（diǎn）測取各測量點相對於測量基準的（de）數據，再經過數據處理評定出平麵度誤差。但其效率較（jiào）低，通常一個樣品需要幾分鍾，離（lí）15ppm的期望相（xiàng）差甚遠。