平麵度（flatness;planeness)，是屬於（yú）形位公差中的一種，指物體表（biǎo）麵具有的宏觀凹凸高度相對理想平麵的偏差。在傳統的（de）檢測方法中，平麵度的測量（liàng）通常有：塞規/塞尺測量法（fǎ）、液平麵法、激光平麵幹涉儀測量法（平晶幹涉法（fǎ））、水平儀/數字水平儀測量法、以及打表（biǎo）測量法。

 

塞尺測量（liàng）法，隻需一套可隨身攜帶（dài）的塞尺就可隨時隨地進行平麵度的粗測。目前很多工（gōng）廠仍使用該方法進行檢測。由於其精度不高，常（cháng）規最薄塞尺為10um，檢測效率（lǜ）較低，結果不夠全麵（miàn），隻能檢測零件邊緣（yuán）。

 

液平麵法，基於連通器工作原理，適合測量連續或（huò）不（bú）連續的大平麵的平麵度，但測量時間長，且對溫度敏感，僅適用於（yú）測量精度較低的平麵。

 

激光平麵幹（gàn）涉儀測量法，最典型的用法是平晶（jīng）幹涉法。但主要於測量光潔的小平麵的測量，如千分頭（tóu）測量麵，量規的工作麵，光學透鏡。

 

水平儀測量法，廣泛用於工件表（biǎo）麵的直線度和（hé）平（píng）麵度測量。測量精度高、穩（wěn）定性好、體積小（xiǎo）、攜（xié）帶（dài）方便。但是用該方法測量（liàng）時需（xū）要反（fǎn）複挪動儀器位置，記錄各測點的數據，費時、費力，調整時間長，數據處理程序繁瑣。

 

打表測量法，典型應用為平板測微儀及三坐（zuò）標儀，其中優以（yǐ）三坐標（biāo）儀為應用最廣泛。測量時指示（shì）器（qì）在待測樣（yàng）品上移動，按選定的布點測取各測量點相（xiàng）對（duì）於測量基準的數據，再經過（guò）數據處理評定出平麵度誤差。但其效率較（jiào）低，通常一個樣品（pǐn）需要幾分鍾，離15ppm的期望（wàng）相差甚遠（yuǎn）。